Electroluminescence Imagingطرح الإطارات المظلمة
يلتقط كل تشغيل أيضًا إطارات دون انحياز كهربائي ثم يطرحها، فلا يصل الضوء الشارد ولا إزاحة المستشعر إلى صورتك.
المحاكيات الشمسية
أنظمة LED كاملة، وزينون، وهجينة LED، وذات حالة مستقرة، للقياس وفق المعيار IEC 60904-9.
التصوير بالتألق الكهربائي
كل خلية، وكل شرخ، في صورة واحدة.
صورة تألق كهربائي بدقة 65 MP للوحة كاملة، بمعدل 0.2 mm لكل بكسل، عند تيارين في تشغيل واحد. ثم يقارنها تحليل الشذوذ بمرجع لنوع لوحتها، ويخبرك بما هو معيب، وأين، وكم يكلّف ذلك الخلية.
65 MP
صورة للوحة كاملة
11 232 x 5 804 px لوحدة بطول 2.3 m
0.21 mm
لكل بكسل
4.8 px/mm من زاوية إلى أخرى
5 MP
لكل كاميرا
45 كاميرا متزامنة على المنصّة
2
لقطتان لكل تشغيل، وحتى 8
Isc و 0.1 x Isc افتراضيًا
~3 s
لتحليل الشذوذ
لكل لقطة، خلية بخلية
مرّر المؤشر فوق الخلية، أو المسها، لتنظر عن قرب.
قرّب إلى خلية واحدة. ثم واصل التقريب.
هذه نصف خلية واحدة من اللوحة، مقتطعة مباشرة من الصورة بدقتها الأصلية، بلا أي تكبير اصطناعي، ومعروضة مع التحسين الافتراضي للحدّة في العارض. 462 x 900 بكسل لقطعة سيليكون أبعادها 91 x 182 mm، أي نحو 415 000 بكسل. كل كاميرا في المنصّة مزوّدة بمستشعر 5 MP وبصريات واسعة الزاوية قريبة من اللوحة، فتذهب البكسلات إلى السيليكون، لا إلى المسافة.
- 4.8 px/mm
- على امتداد اللوحة كلها، من زاوية إلى أخرى
- 462 x 900 px
- لنصف خلية، ونحو 880 x 880 px لخلية M10 كاملة
- 0.21 mm
- لكل بكسل: يُرى الشرخ ويُحدَّد موضعه ويُقاس بالمليمتر
- 65 MP
- تُفتح فورًا بأي مستوى تكبير، من اللوحة إلى البكسل
في هذه الخلية: شرخ دقيق منحنٍ يبدأ من الحافة العلوية، ومنطقة غير نشطة على شكل حرف T تعبر أحد قضبان التجميع، وبقع داكنة صغيرة. كل خط من خطوط قضبان التجميع ظاهر بوضوح.
تعريض يناسب اللوحة
لكل نوع من اللوحات زمن تعريض خاص به، تحدّده المحطة بنفسها ببضع لقطات اختبارية. لا خلايا مشبعة، ولا نطاق ديناميكي مهدور.
تنبّهك حين تكون اللقطة خاطئة
بكسلات مشبعة، أو طرف توصيل منفصل عن اللوحة، أو كاميرا لم تستجب: تُعلَّم اللقطة بجملة يفهمها الفني، وتُحفظ للتشخيص، ولا تُحلَّل أبدًا كأنها سليمة.
تياران، وحقيقتان
يكشف التيار العالي الشروخ والمناطق غير النشطة. ويكشف التيار المنخفض ما يخفيه التيار العالي: مسارات التسريب، والخلايا الضعيفة، والخلايا التي تخرج عن العمل. تلتقط وصفة التألق الكهربائي الصورتين في التشغيل نفسه، دون أن تتحرك اللوحة أبدًا، فتتطابقان بكسلًا ببكسل.
Isc (8 A)0.1 x Isc (0.8 A)حتى 8 لقطات في الوصفة
التيار كنسبة من Isc الخاص باللوحة أو بالأمبير، وحدّ الجهد، والتعريض: وصفة واحدة لكل نوع من اللوحات، تُختار تلقائيًا مع الجهاز قيد الاختبار (DUT).
نافذة انحياز واحدة
الإطارات المظلمة مرة واحدة، ثم كل لقطة بدورها، مع فترات انتظار تنتهي فور استقرار الضوء. التشغيل قصير واللوحة لا تتحرك.
صور الفرق (Delta)
اقسم لقطة على أخرى، أو لوحة قبل اختبار الإجهاد وبعده، خلية بخلية مع مواءمة المستويات، لترى بالضبط ما الذي تغيّر.
تحليل الشذوذ
تُقارَن كل صورة بمرجع لنوع لوحتها، مكوَّن من صور لوحات سليمة. وما لا يطابق المتوقع يُرسم على الصورة، التفاصيل الدقيقة باللون الناري والمناطق الواسعة باللون السماوي، ثم يُصنَّف إلى نتائج ويُقيَّم خلية بخلية. لا عتبة يجب ضبطها لكل عيب، ولا قاعدة يجب كتابتها.
أشِر إلى خلية لترى مؤشر جودتها وما وُجد فيها.
رقم واحد لكل خلية
تحصل كل خلية على مؤشر جودة: 100 % تعني خلية مثالية، و 0 % تعني غياب الخلية تمامًا. الخلية الأغمق قليلًا في مجملها لا تخسر شيئًا، والشرخ يُحتسب بطوله، والمنطقة الميتة بمساحتها. رتّب على أساسه، وصنّف على أساسه، وأوقف خط الإنتاج بناءً عليه.
لقطتان تعرفان أكثر من لقطة واحدة
عندما يتضمن التشغيل لقطتين، يجمع البرنامج تحليليهما معًا.
87
نتيجة مؤكَّدة
وُجدت في كلتا لقطتي التشغيل، فهي ليست ضوضاء إطار واحد. ومفتاح واحد يخفي العلامات الصغيرة التي لا تظهر إلا في لقطة واحدة.
تسريب
أغمق عند التيار المنخفض
الخلية أو الرقعة الأغمق عند 0.8 A منها عند 8 A تُوسَم بأنها مسار تسريب، مع كتابة النسبتين بجانبها.
Rs
أغمق عند التيار العالي
ما هو أغمق عند 8 A منه عند 0.8 A يدل على مقاومة تسلسلية: مشكلة في التلامس أو التوصيل البيني، لا في السيليكون.
الفرق (Delta): ما الذي تغيّر بين صورتين
اقسم صورة على أخرى، فيُظهر البرنامج، بكسلًا ببكسل، أين تتصرف اللوحة بشكل مختلف: لقطة 8 A مقابل لقطة 0.8 A، أو اللوحة نفسها قبل اختبار الإجهاد وبعده. تُوحَّد الصورتان أولًا إلى المستوى نفسه، والموضع الذي يؤخذ منه هذا المستوى يحدد ما تراه.
الفرق في تشغيل المثال، 8 A مقسومًا على 0.8 A، محسوبًا من الصورتين الحقيقيتين بالإعدادات الافتراضية للبرنامج.
قبل اختبار الإجهاد وبعده
يمكن مقارنة أي نتيجتين للوحة نفسها: قبل اختبار الحرارة الرطبة أو التدوير الحراري أو الحمل الميكانيكي وبعده. تُحاذى الصورتان على زاوية اللوحة.
أربع طرق لمواءمة المستويات
على كل خلية، أو حول كل نقطة لإبراز أدق التفاصيل وحدها، أو على اللوحة كاملة، أو كما التُقطت. النسبة أو الفرق، والتنعيم، واستبعاد حدود الخلايا، والنطاق، والعتبة: كلها إعدادات بين يديك.
الخلايا الأكثر تغيّرًا
بجانب الصورة: مدرّج تكراري للفرق، ومتوسطه وتشتّته، ونسبة اللوحة التي تتجاوز العتبة، والخلايا الاثنتا عشرة الأكثر تغيّرًا، تُفتح كل منها بنقرة واحدة.
خلايا تستحق نظرة أقرب
أربع خلايا من المثال، بدقتها الأصلية. مرّر المؤشر فوق صورة لإزالة الخريطة ورؤية ما تحتها.
B24 · 8 Aمؤشر الجودة59.3 %
شريط منكسر
جزء كبير من الخلية منفصل وداكن: منطقة واسعة باللون السماوي. أدنى خلية في اللوحة عند 8 A.
- رقعة داكنة
- بقعة
- خلية داكنة
B22 · 8 Aمؤشر الجودة67.4 %
عدة شروخ
الشرخ المنحني والشرخ الذي على شكل حرف T في الصورة المقرّبة أعلاه، مرسومان باللون الناري، مع بقع صغيرة حولهما.
- شرخ
- بقعة
- رقعة داكنة
C12 · 8 Aمؤشر الجودة71.7 %
شرخ وجزء متدهور
شرخ طويل بجانبه جزء متدهور، أغمق بنسبة 30 % من بقية الخلية، وبالدرجة نفسها عند التيارين.
- جزء متدهور
- بقعة
- شرخ
C23 · 0.8 Aمؤشر الجودة27.4 %
مسار تسريب
أغمق بنسبة 59 % من خلية نموذجية عند 0.8 A، وبنسبة 8 % فقط عند 8 A: أغمق عند التيار المنخفض، لذا يصنّفه البرنامج مسار تسريب.
- جزء متدهور
- شرخ
- خلية داكنة
مرّر المؤشر لإخفاء الخريطة
عارض مصمَّم لخبراء القياس
تقع مساحة عمل التألق الكهربائي بجانب نتائج I-V في PVStudio.
تكبير عميق
هرم صور مقسَّم إلى بلاطات: تتنقّل في صورة 65 MP كاملة وتكبّرها دون انتظار.
عدسة الخلية
مرّر المؤشر فوق أي خلية لتكبيرها، وانتقل من خلية إلى أخرى بلوحة المفاتيح.
خرائط الألوان
رمادي، inferno، magma، viridis، turbo وغيرها، مع ضبط المستويات وموازنة التباين: للعين فقط، فالبيانات لا يُعاد ترميزها أبدًا.
طبقات الشذوذ
طبقة للتفاصيل الدقيقة وأخرى للمناطق الواسعة، وعتبة، وألوان، ومفتاح تضغط عليه لإبعاد الخريطة ورؤية ما تحت العلامة.
تراكب الضوء المرئي
أرفق صورة فوتوغرافية عادية للوحة وحاذِها للمقارنة مع صورة التألق الكهربائي.
التصدير
PNG أو TIFF أو JPEG لأي نتيجة بالدقة الكاملة، لتقاريرك ولعملائك.
الكلمة الأخيرة لمشغّلك
يمكن إخفاء الأنواع، ويضيف المشغّلون علاماتهم الخاصة على الصورة. وتُحفظ العلامات مع النتيجة.
في ملف القياس
تُلتقط لقطات التألق الكهربائي في التشغيل نفسه الذي يُقاس فيه منحنى I-V وتُحفظ في القياس نفسه، فلا تنفصل قدرة الوحدة عن صورتها أبدًا.
أفضل مع كل إصدار
تصل محركات التحليل على شكل حزم موقّعة ومشفّرة عبر Pasan Cloud. تتحسّن محطتك دون إعادة تثبيت.
يعمل مع أجهزة المحاكاة لدينا
يعمل Electroluminescence Imaging داخل PVStudio إلى جانب قياس I-V، على المحطة نفسها وفي ملف القياس نفسه.
مصمَّم حول معايير التألق الكهربائي
للتصوير بالتألق الكهربائي للوحدات الكهروضوئية مواصفة فنية خاصة به من IEC، وتعتمد عليه مختبرات التأهيل قبل كل اختبار إجهاد وبعده. وقد صُمِّم Electroluminescence Imaging لكليهما.
IEC TS 60904-13
التألق الكهربائي للوحدات الكهروضوئية: الوحدة في انحياز أمامي في الظلام، وكاميرا ترى الأشعة تحت الحمراء القريبة، وصورة عند Isc وأخرى عند تيار أدنى. ومنصّة التألق الكهربائي لدينا تلتقط هذا الزوج تمامًا، Isc وعُشر Isc، في تشغيل واحد.
IEC 61215-2 و IEC 61730-2
اختبارات التأهيل والسلامة: التدوير الحراري، والحرارة الرطبة، والحمل الميكانيكي. تصوّر المختبرات الوحدة قبل كل سلسلة اختبارات وبعدها، ويقارن الفرق (Delta) الصورتين خلية بخلية ويُظهر ما أحدثه الإجهاد.
IEC 60904-1
منحنى I-V للتشغيل نفسه، المقاس على محاكي Nexun أو HighLIGHT، يُحفظ في القياس نفسه مع صور التألق الكهربائي: قدرة الوحدة وصورتها معًا، لا تنفصلان أبدًا.
من المهندسين الذين يعايرون أجهزة الوميض حول العالم
تبني Pasan أجهزة محاكاة الشمس المرجعية لمصنّعي الوحدات ومختبرات الاختبار منذ عام 1978، وتصنع Avalon ST أجهزة محاكاة تعمل بالكامل بتقنية LED منذ عام 2018. ويأتي Electroluminescence Imaging من المهندسين أنفسهم: الكاميرات وإلكترونيات المنصّة والتحليل والبرنامج كلها مصمَّمة داخليًا، ونقيس بها كل يوم.
- صمّمه الفريق الذي يقف وراء PVStudio، البرنامج الذي يشغّل أنظمة Nexun و HighLIGHT لدينا
- محركات تحليل مطوَّرة داخليًا، تُحدَّث عن بُعد
- مركَّب على جميع أنظمة Nexun العمودية التي نشحنها تقريبًا
- يدعمه عن بُعد المهندسون الذين كتبوه
شاهد لوحتك أنت فيه
أرسل إلينا وحدة، أو اطلب المثال بالدقة الكاملة، واحكم على التفاصيل بنفسك.