すべてのセル、すべてのクラックを、1枚の画像に。

1レシピあたり最大8ショット

パネルのIscに対する比率またはアンペアで指定する電流、電圧制限、露光。パネルタイプごとに1つのレシピがあり、DUTに合わせて自動で選択されます。

1回のバイアス期間

ダークフレームを1回撮影し、続いて各ショットを順に撮影します。待機は光が安定した時点で終了するため、測定は短く、パネルは動きません。

デルタ画像

一方のショットをもう一方で割る、あるいはストレス試験前後のパネル同士を、レベルを揃えたうえでセルごとに割り算し、何が変わったかを正確に把握できます。

ストレス試験の前後

同じパネルの任意の2つの結果を比較できます。ダンプヒート、温度サイクル、機械的荷重の前後などです。画像はパネルのコーナーを基準に位置合わせされます。

レベルを揃える4つの方法

セルごと、最も細かいディテールだけを見るための各点の周囲、パネル全体、または撮影したまま。比率か差分か、スムージング、セル境界の除外、範囲としきい値はすべて自由に設定できます。

最も変化したセル

画像の横に、デルタのヒストグラム、その平均とばらつき、しきい値を超えたパネルの割合、そして最も変化した12枚のセルを表示します。それぞれワンクリックで開けます。

最終判断はオペレーターに

種類ごとに非表示にでき、オペレーターは画像上に独自のマークを追加できます。マークは結果とともに保存されます。

測定ファイルの中に

エレクトロルミネッセンスのショットはIVカーブと同じ測定で撮影され、同じ測定データに保存されます。モジュールの出力とその画像が離れ離れになることはありません。

リリースごとに進化

解析エンジンは、署名・暗号化されたパッケージとしてPasan Cloud経由で届きます。再インストールなしでステーションが進化します。

太陽電池モジュールのエレクトロルミネッセンス：暗所で順バイアスをかけたモジュール、近赤外を捉えるカメラ、Iscで1枚、より低い電流でもう1枚。当社のエレクトロルミネッセンスベンチは、まさにそのペア、IscとIscの10分の1を1回の測定で撮影します。

認証試験と安全試験：温度サイクル、ダンプヒート、機械的荷重。試験機関は各シーケンスの前後にモジュールを撮影します。デルタは2枚の画像をセルごとに比較し、ストレスがもたらした変化を示します。

NexunまたはHighLIGHTシミュレーターで測定した同じ測定のI-Vカーブは、エレクトロルミネッセンス画像と同じ測定データに保存されます。1枚のモジュールの出力と画像が、離れ離れになることはありません。