모든 셀, 모든 크랙을 한 장의 이미지에.

레시피당 최대 8회 촬영

패널 Isc 대비 비율 또는 암페어 단위의 전류, 전압 한계, 노출: 패널 유형마다 레시피 하나, DUT와 함께 자동으로 선택됩니다.

하나의 바이어스 구간

다크 프레임을 한 번 촬영한 뒤 각 촬영을 차례로 진행하며, 대기 시간은 빛이 안정되는 즉시 끝납니다. 실행은 짧고 패널은 제자리에 머뭅니다.

델타 이미지

한 촬영을 다른 촬영으로 나누거나, 스트레스 시험 전후의 패널을 셀 단위로 레벨을 맞추어 나누어, 무엇이 바뀌었는지 정확히 확인합니다.

스트레스 시험 전후

같은 패널의 어떤 두 결과든 비교할 수 있습니다: 고온고습, 열 사이클, 기계적 하중 전후. 이미지는 패널 모서리를 기준으로 정렬됩니다.

레벨을 맞추는 네 가지 방법

셀별, 가장 미세한 디테일만을 위한 각 점 주변, 패널 전체, 또는 촬영한 그대로. 비율 또는 차이, 스무딩, 셀 경계 제외, 범위와 임계값 모두 직접 설정할 수 있습니다.

가장 많이 바뀐 셀

이미지 옆에 델타 히스토그램, 평균과 분산, 임계값을 넘는 패널 비율, 그리고 가장 많이 바뀐 셀 12개가 표시되며, 클릭 한 번으로 각각을 열 수 있습니다.

최종 판단은 운영자가 내립니다

유형을 숨길 수 있으며, 운영자가 이미지 위에 직접 표시를 추가할 수 있습니다. 표시는 결과와 함께 저장됩니다.

측정 파일 안에

전계발광 촬영은 IV 곡선과 같은 실행에서 이루어지고 같은 측정에 저장되므로, 모듈의 출력과 이미지가 분리되는 일이 없습니다.

릴리스마다 더 좋아집니다

분석 엔진은 서명 및 암호화된 패키지로 Pasan Cloud를 통해 제공됩니다. 재설치 없이 스테이션이 개선됩니다.

태양광 모듈의 전계발광: 암실에서 순방향 바이어스를 건 모듈, 근적외선을 감지하는 카메라, Isc에서 한 장과 더 낮은 전류에서 한 장의 이미지. 당사의 전계발광 벤치는 바로 그 한 쌍, Isc와 Isc의 10분의 1을 한 번의 실행으로 촬영합니다.

인증 및 안전 시험: 열 사이클, 고온고습, 기계적 하중. 시험소는 각 시퀀스 전후에 모듈을 촬영하며, 델타가 두 이미지를 셀 단위로 비교하여 스트레스가 무엇을 남겼는지 보여 줍니다.

Nexun 또는 HighLIGHT 시뮬레이터에서 같은 실행으로 측정한 I-V 곡선은 전계발광 이미지와 같은 측정에 저장됩니다: 한 모듈의 출력과 이미지가 절대 분리되지 않습니다.